玉崎-泰赛TESEC热阻测试机4408-KT多重测试功能

玉崎-泰赛TESEC热阻测试机4408-KT多重测试功能4408-KT4408-KT 设计用于测量 GaN HEMT随 VGS 的温度变化 (ΔVGS) 的瞬态热阻特性。测量值 VGS1 和 ΔVGS 值显示在前面板显示屏上。特点・测量结果显示在前面板显示屏上・可以显示升高的温度 ΔT 作为计算结果・热阻Rth可显示为计算结果・多重测试功能・60 可存储测试程序・接触检查/开路,短路检查・振荡检测

玉崎-泰赛TESEC热阻测试机4408-KT多重测试功能


4408-KT

4408-KT 设计用于测量 GaN HEMT随 VGS 的温度变化 (ΔVGS) 的瞬态热阻特性。

测量值 VGS1 和 ΔVGS 值显示在前面板显示屏上。


特点

・测量结果显示在前面板显示屏上

・可以显示升高的温度 ΔT 作为计算结果

・热阻Rth可显示为计算结果

・多重测试功能

・60 可存储测试程序

・接触检查/开路,短路检查

・振荡检测

・可以通过 TESEC DC 测试仪控制操作

・门限电压可设定,并配备器件过热保护电路

・GP-IB/RS-232C 接口使外部设备能够控制该测试仪

・可以连接功能检查单元(4321-AB)(选项)


■ 可选软件示例

・从 PC 控制测试仪的软件

(测试程序创建、数据收集和计数器收集)

・使用功能检查单元收集测量数据的软件


项目规格

漏极电流 (ID)

00.01~20.00 A

测量电流 (IM)

000.1~999.9 mA

栅极电压 (VGS)

00.1~10.0 V

栅极限制电压 (GATE-L)

01.0~10.0 V

通电时间 (PT)T

100 微秒~30.0 秒

延迟时间 (DT)

010~999 微秒

上限/下限

000.0~999.9 mV

VDS

01.0~70.0 V

测量范围

VGS1 0000.0~2000.0 mV
ΔVGS 0000.0~999.9 mV(分辨率 0.1 mV)


联系电话:0755-28578111

周一~周五 8:30:00~18:00 周六 10:00~17:00

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