用于HF频段量产RFID测试仪T8200shannon玉崎供应TESTRAM日本

通过 100% 检验来保证预层压嵌体和天线片的质量。

这是一种针对批量生产来测量 IC 卡和

标签的谐振频率和 Q 值的检查装置。

同时测量的数量为2至32个通道，一次测量所需的时间仅为0.15秒。

它实现了大规模生产现场所需的高吞吐量和性价比，

非常适合表面贴装片材产品和卷材产品

（例如预层压嵌体和 RFID 天线）的 100% 检测。

此外，我们还支持质量稳定的IC卡和标签的发货。

我们还接受定制检测头的请求，以匹配要测量的线圈设计。

紧凑的设计允许集成到芯片安装机等生产设备中。

当并入生产线时，可以通过I/O输出1CH至32CH的PASS/FAIL判断。

规格

基本功能

检查项目 - 谐振频率、衰减量、Q 值

频率设置范围数 - 1MHz 至 100MHz

同时测量数量 - 2CH 至 32CH（2CH/测试板）

检查时间 - 150msec（测量点数 = 500，平均次数 4 次） ）

系统配置

主体/检测头/同轴电缆/应用软件/5V电源

系统要求

操作系统 - Windows10,11

I/F - USB2.0 或更高版本