玉崎-日本Optorun直接传输监测器DHOM-T光学膜厚计
玉崎-日本Optorun中红外光学监测仪HOM5-T-IR2000膜厚计玉崎-日本Optorun直接传输监测器DHOM-T光学膜厚计DHOM-T是一款光学膜厚计，可在薄膜沉积过程中直接监测和控制旋转圆顶上基材的光学膜厚。该系列包括 350 至 1100 nm 和 350 至 2400 nm 的波长带。特点■可以直接监测和控制旋转穹顶上基板的光学膜厚。■球顶上的监控位置可以改变（成膜前的改变和调整）
玉崎-日本Optorun中红外光学监测仪HOM5-T-IR2000膜厚计
玉崎-日本Optorun直接传输监测器DHOM-T光学膜厚计
DHOM-T是一款光学膜厚计，可在薄膜沉积过程中直接监测和控制旋转圆顶上基材的光学膜厚。
该系列包括 350 至 1100 nm 和 350 至 2400 nm 的波长带。
特点
■可以直接监测和控制旋转穹顶上基板的光学膜厚。
■球顶上的监控位置可以改变（成膜前的改变和调整）
■可与使用监控玻璃的传统间接监控系统同时安装，允许在每一层进行切换控制。
规格
| 型号 | DHOM2-T | DHOM4-T |
| 波段 | 350-1100nm | 350-2400nm |
| 光度测定法 | 透明的 | |
| 光源 | 卤素灯 | |
| 电源 | AC100V±10%，50/60Hz | |