SANKO山高 厚膜型探头SFe-20 (F:0~20mm)磁性金属底座
SANKO山高 厚膜型探头SFe-10 (F:0~10mm)磁性金属底座SANKO山高 厚膜型探头SFe-20 (F:0~20mm)磁性金属底座特征由于探头的兼容性，可以与主体进行任意组合连接。根据测量对象，连接1个用于黑色金属基材（电磁型）或1个用于有色金属基材（涡流型）。可以根据应用和测量范围选择探头，包括适合测量微小颗粒的高稳定性探头。自动识别和测定贱金属（SFN-325）。型号名称SFe-
SANKO山高 厚膜型探头SFe-10 (F:0~10mm)磁性金属底座
SANKO山高 厚膜型探头SFe-20 (F:0~20mm)磁性金属底座
特征
由于探头的兼容性，可以与主体进行任意组合连接。
根据测量对象，连接1个用于黑色金属基材（电磁型）或1个用于有色金属基材（涡流型）。
可以根据应用和测量范围选择探头，包括适合测量微小颗粒的高稳定性探头。
自动识别和测定贱金属（SFN-325）。
型号名称
SFe-10
SFe-20
测量方法
电磁感应式
测量范围
0～10mm
0～20mm
显示分辨率
1μm: 0~999μm
0.01mm: 1~10mm
0.01mm: 1~10mm
1μm: 0~999μm
0.01mm: 1~5mm
0.1mm: 5~20mm
0.01mm: 1~5mm
0.1mm: 5~20mm
测量精度
（垂直于光滑表面测量）
（垂直于光滑表面测量）
0～3mm：±(5μm+示值的3%)
3.01mm以上：示值的±3%以内
3.01mm以上：示值的±3%以内
探测
1点恒压接触式，带V形切口
φ20.4 x 47.1 mm
φ20.4 x 47.1 mm
1点恒压接触式，带V形切口
φ35 x 55 mm
φ35 x 55 mm
配件
标准厚板、测试用零板（钢材）
测量目标
用于测量钢铁等磁性金属基材上相对较厚的物体。
用于测量钢铁等磁性金属基材上的厚物体