SANKO电磁模拟膜厚仪TL-50 山高 高精度测厚仪
SANKO电磁模拟膜厚仪TL-50 山高 高精度测厚仪由于磁极安装在细长伸缩手柄的顶端，因此可以测量细管（φ32mm以上）、设备背面、高处和远处的涂层。测量范围0.1～5mm测量精度均匀表面显示值的 ±5%最小测量管直径φ32mm电源直流：AA 电池 (1.5V) x 4工作温度0～40℃（无凝结）飞机尺寸170(宽)×130(高)×80(深)毫米重量1.7公斤配件标准厚板、肩背箱探测1点接触式，
SANKO电磁模拟膜厚仪TL-50 山高 高精度测厚仪
由于磁极安装在细长伸缩手柄的顶端，因此可以测量细管（φ32mm以上）、设备背面、高处和远处的涂层。
- 测量范围0.1～5mm
- 测量精度均匀表面显示值的 ±5%
- 最小测量管直径φ32mm
- 电源直流：AA 电池 (1.5V) x 4
- 工作温度0～40℃（无凝结）
- 飞机尺寸170(宽)×130(高)×80(深)毫米
- 重量1.7公斤
- 配件标准厚板、肩背箱
- 探测1点接触式，带伸缩导轨，φ25 x 30mm 导轨：5级伸缩式，最大1.5m