膜厚仪SANKO山高 Minitest 7400FH非磁性材料测厚仪 高精度测量
膜厚仪SANKO山高 Minitest 7200FH 非磁性材料测厚仪 高精度测量膜厚仪SANKO山高 Minitest 7400FH非磁性材料测厚仪 高精度测量无损、高精度测量非磁性材料的厚度测量目标球的重现性设计为 0.5% 或更小。测量方法静磁测量范围取决于所使用的传感器FH-4 传感器:0 至 9 mmFH-10 传感器:0 至 24 mm显示方式LCD、图形显示 (7400FH)数据存储
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膜厚仪SANKO山高 Minitest 7400FH非磁性材料测厚仪 高精度测量
无损、高精度测量非磁性材料的厚度
测量目标球的重现性设计为 0.5% 或更小。