一、核心参数

• 测量原理：涡电流式（Eddy Current）

• 测量范围：0 ~ 2.00 mm

• 显示分辨率（可切换）

• 0 ~ 400 μm：0.1 μm

• 400 ~ 500 μm：0.5 μm

• 500 ~ 999 μm：1 μm

• 1.00 ~ 2.00 mm：0.01 mm

• 测量精度（垂直光滑表面）

• 0 ~ 100 μm：±1 μm 或 ±2% 取大值

• 101 μm ~ 2.00 mm：±2%

• 探头结构：单点恒压接触式，带 V 型切口

• 尺寸：φ15 × 47 mm

• 适用主机：SANKO SWT-NEO 系列膜厚仪（如 SWT-NEO II / III）

• 测量对象：非磁性金属基底（铝、铜、黄铜、不锈钢等）上的油漆、塑料、阳极氧化膜、陶瓷等绝缘涂层

二、型号区分

• SNFe-2.0：标准型探头，尺寸 φ15×47 mm

• SNFe-2.0L：长型 / 加长型探头，尺寸 18×22×67 mm，适合深孔或狭窄区域测量

三、主要特点

• 高精度：在常用厚度区间提供高分辨率与稳定性

• 宽量程：覆盖从微米级薄膜到 2mm 厚涂层

• 专用适配：与 SANKO NEO 系列主机无缝兼容，支持两点校准与数据存储

• 工业耐用：V 型切口设计，确保测量时稳定接触，减少人为误差

四、典型应用

• 汽车零部件（铝轮毂、车身覆盖件）涂层检测

• 航空航天铝合金构件表面处理层测量

• 电子行业 PCB 板、铜箔上绝缘膜厚度控制

• 铝型材、铜材的阳极氧化膜与油漆厚度质检