【玉崎供应】日本东丽TORAY探头 PT75-3-12.7

【玉崎供应】日本东丽TORAY探头 PT75-3-12.7

‍一、型号释义

PT75-3-12.7

PT：东丽自研 PVDF 高分子压电薄膜超声探头系列（无透镜一体式聚焦）

75：中心频率 75 MHz

3：振子晶片直径

12.7：标准声学焦距 12.7 mm（行业通用水深）

二、核心规格参数

表格

参数项

PT75-3-12.7

中心频率    75 MHz

振子口径    φ3 mm

焦距    12.7 mm

压电材质    P (VDF-TrFE) 高分子薄膜

结构特点    无声学透镜，一体成型聚焦

标配接头    MicroDot / UHF 二选一（订货指定）

耦合介质    纯水水浸式检测

适配设备    东丽 SAT 全系列超声扫描显微镜 SAM、国产高端 C-SAM 设备

横向分辨率    微米级，优于 50MHz 同口径探头

标准水深    12.7mm，通用工装支架直接适配

三、产品核心优势

75MHz 超高频率，极致微观分辨对比 50MHz 系列，波长更短，可检出亚微米级微小空洞、微裂纹、超薄界面分层，适合微小芯片精密封装检测。

φ3mm 小口径，细声束聚焦声束焦斑极小，单点检测精度高，适配微型元器件窄区域扫描；相比 φ2.6mm 晶片，声波能量更强、穿透深度更好，兼顾分辨率与灵敏度。

无透镜设计，低杂波高信噪比取消传统玻璃透镜，消除透镜内部反射杂波，浅层界面回波干净，超薄胶层、超薄焊层缺陷更容易识别。

12.7mm 通用标准焦距市面绝大多数 SAM 设备载台、工装无需定制，通用性强，替换成本低。

宽频 PVDF 薄膜近场盲区极小，适合超薄样品表层缺陷检测，耐疲劳、使用寿命优于传统 PZT 陶瓷探头。

四、同焦距 12.7mm 高频型号横向对比

表格

型号

频率

口径

适用场景区别

PT50-4.5-12.7    50MHz    φ4.5mm    通用批量检测，兼顾速度与分辨率

PT75-3-12.7    75MHz    φ3mm    微型芯片、微小缺陷、超薄封装高精度检测

PT100-3-8    100MHz    φ3mm    超浅层、纳米级薄膜，穿透浅

五、典型应用场景

半导体精密封装（主力）Mini/Micro LED、倒装芯片、CSP、QFN、微小 BGA、功率器件微空洞、焊层分层、环氧胶微气泡。

陶瓷基板、超薄粘接层、微型传感器、射频器件内部缺陷检测。

材料无损检测复合薄膜、超薄涂层厚度测量、微米级界面脱粘、微小裂纹成像。

实验室精密分析高校 / 第三方检测实验室高精度 SAM 失效分析。