供应AEMIC爱米克数字电容测量仪/AE-381A实现从小容量到大容量的MLCC测量（测量频率1MHz/1kHz/120Hz）

实现从微小电容到大电容的MLCC的高速测量。
(测量频率1MHz/1kHz/120Hz)
最适合作为编带工序的测量装置。

[特点]
■超高速：0.5msec.[1MHz]、1msec.[1kHz]、8.34msc.[120Hz]（FAST测量期间的时间）
■通过检测测量值异常，即使在测量两个端子时也可以检测探头接触故障
■4 可进行端子接触检查
■测量频率：1MHz/1kHz/120Hz±0.1%（正弦波）
■可切换串联等效电路、并联等效电路
■恒压测量（不支持某些范围）
■tanδ：0 至 50.00 %、可进行Q测量
■C测量：41/2位（15000）数字显示，内置比较器功能允许HI/GO/LO输出
■RS-232C接口，打印机输出（Centronics兼容标准设备）（GP-IB是可选的）
■间歇地施加测量电流，以减少探头/触点的磨损 ■间歇性地施加测量电流，以减少探头/触点的磨损
■测量值、统计值、日期、时间等值输出到即使在测量过程中也可打印

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基本信息数字电容测量仪/AE-381A

■超高速：0.5msec.[1MHz]、1msec.[1kHz]、8.34msc.[120Hz]（FAST测量时的时间）
■由于测量值异常检测，即使在2端子测量期间也检测到探头接触故障
■4-端子接点可确认
■测量频率：1MHz/1kHz/120Hz±0.1%（正弦波）
■串联等效电路、并联等效电路可切换
■恒电压测量（不支持部分量程）
■tanδ：0～50.00%、Q可测量
■ C测量：41/2位（15000）数字显示，内置比较器功能允许HI/GO/LO输出
■RS-232C接口，打印机输出（Centronics兼容标准设备）（GP-IB是可选的）
■探头・测量间歇地施加电流
，以减少触点磨损。 即使在测量过程中，测量值、统计值、日期、时间等也会输出到打印机。