量测检测:精测电子公司介绍

2026-08-15 17:19:35
精测电子集团,以显示检测起家,子公司上海精测为半导体前道量检测核心主体,国内少数实现膜厚、OCD 光学关键尺寸、电子束量测复检多品类前道设备批量落地;量检测设备被称为芯片工厂的 “体检仪”,贯穿芯片全工艺流程,全球市场美国科磊 KLA 一家独大,国产化率整体很低,国产替代空间巨大。

一、公司概况

  • 全称:武汉精测电子集团股份有限公司,股票代码300567(创业板)

  • 成立:2006 年,总部武汉;2016 年创业板上市

  • 核心子公司:

    • 上海精测:前道晶圆量测、缺陷检测(集团半导体核心资产,2026 年计划收购为全资子公司)

    • 武汉精鸿:后道 ATE 存储测试设备、老化测试设备

  • 三大业务板块:半导体量检测(增长主力)、显示面板检测(传统基本盘)、新能源锂电池检测

  • 客户:中芯国际、长江存储、长鑫存储、华虹、晶合集成等国内主流 12 英寸晶圆厂;覆盖逻辑、3D‑NAND、DRAM、HBM、先进封装产线

  • 全球竞争对手:科磊 KLA(绝对龙头)、应用材料、日立高新;国内对标:中科飞测

量检测赛道:芯片每道工艺后都需要量测、检查薄膜厚度、图形尺寸、微小缺陷,直接决定良率;分为量测(测参数:厚度、线宽)检测(找缺陷颗粒)两大类设备。

二、半导体核心产品线(上海精测)

1、量测设备(测量薄膜厚度、结构形貌)

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设备系列产品定位用途
EFILM 膜厚量测主力出货,独立 / 集成式膜厚机SiO₂、SiN、金属膜、外延层厚度测量;部分机型支持 7nm 级制程,累计出货超 400 台
EProfile OCD 光学关键尺寸量测先进制程刚需,光谱散射量测测量图形线宽、侧壁角度、三维形貌,适配 3D‑NAND、FinFET、HBM 堆叠结构
MetaPAM 金属薄膜量测、Scale‑EPI 外延量测专项量测金属膜、硅外延层厚度与应力量测
DM 系列离子掺杂浓度量测电学参数量测检测离子注入后掺杂浓度、方块电阻

2、缺陷检测、电子束设备

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设备系列定位用途
BFI 明场光学缺陷检测有图形晶圆光学检测查找晶圆图形表面颗粒、短路、断路缺陷
VEGA 暗场无图形检测裸片、空白晶圆检测检测硅片表面微小颗粒缺陷
eView/eVC/eSpec 电子束复检电子束扫描,高分辨率缺陷复查光学设备抓到可疑缺陷后,电子束做高清成像分析;国内少数实现量产的电子束复检设备,2026 年第 100 台出货
AeroScan FIB‑SEM 双束系统微纳分析制样切片 TEM 样品制备,失效分析

3、后道测试(武汉精鸿)

  • 存储芯片 ATE 测试系统、Burn‑In 老化、CP 探针、FT 终测设备,面向 DRAM/NAND 存储芯片测试,头部封测厂批量导入订单。

4、先进封装量检测

设备向下延伸覆盖 CoWoS、HBM、2.5D/3D 堆叠、晶圆级封装检测场景。
业务特点:光学类量测设备已经大规模重复订单;电子束复检实现量产;高端电子束扫描检测(EBI)尚在验证阶段

三、另外两大业务板块

  1. 显示检测(起家业务):LCD/OLED/Mini‑LED/Micro‑LED 面板 AOI 光学检测、信号测试设备,国内面板检测龙头,提供稳定现金流。

  2. 新能源检测:锂电池视觉检测、化成分容、X‑RAY 无损检测设备。

四、下游应用领域

  1. 12 英寸逻辑芯片、3D‑NAND、DRAM 存储、HBM 高带宽内存;

  2. CIS 图像传感器、功率半导体;

  3. 2.5D/3D 先进封装、面板级封装;

  4. 化合物半导体、MEMS 器件制造。


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