量测检测:长川科技介绍
2026-08-15 17:22:17
杭州长川科技股份有限公司（300604），国内半导体后道量测检测（测试）设备平台龙头，国内唯一同时具备测试机、分选机、探针台、AOI 光学检测四大后道核心设备完整供应能力的企业，主打芯片电性量测、分选、晶圆探针测试、外观缺陷检测整套解决方案。
一、公司基础概况
成立：2008‑04，总部杭州滨江；2017‑04 创业板上市，国内首家封测装备上市公司
规模：员工 5800+，研发占比 55% 以上；海内外授权专利 1600+，发明专利 480+
全球化：国内多地分支机构；并购新加坡 STI（AOI）、日本 SATO 半导体事业部、马来西亚 EXIS（转塔式分选）；海外覆盖日韩、东南亚、欧美
资质：高新技术企业、工信部制造业单项冠军、专精特新小巨人企业
客户：长电科技、通富微电、华天科技、中芯国际、长江存储等晶圆厂、封测厂、IC 设计公司
二、核心量测检测产品线（四大板块）
1）测试机 ATE（电性量测，第一大业务，营收占比约 60%）
完成芯片电性参数量测、功能测试，判断芯片好坏，是量测核心设备。
SoC / 数字测试机 D9000 系列：数字、AI、处理器、射频芯片，支持晶圆 CP 测试、成品 FT 测试.
数模混合测试机 CTA8280F/8290DPlus：PMIC 电源管理、模拟、数模混合芯片
功率器件测试机 CTT/P3000 系列：MOS、IGBT、SiC 碳化硅器件，高压大电流量测（3000V/400A），覆盖新能源、车规功率半导体
老化测试机 CM1028：车规、AI 芯片高温老化可靠性量测
2）分选机 Handler（测试配套自动化设备）
将芯片自动送料、温区控温（常温 / 高温 / 低温三温）、对接测试机，完成测试后按良率分选分类。
重力式分选机 C1/C5/C7/C8/C9 系列
平移式分选机 C6800T、C6100TS（三温，主流量产机型）
SLT 系统级测试分选机 CS 系列
EXIS 转塔式分选机（并购 EXIS 获得，小引脚高速器件）
3）探针台 Prober（晶圆级量测 CP）
晶圆未切割前，探针直接接触晶圆焊盘，完成整片晶圆芯片电性量测（CP 测试），筛选坏晶粒。
CP12 12 英寸全自动探针台，适配各类测试机，实现晶圆级量测检测
4）AOI 光学外观检测（缺陷量测）
并购新加坡 STI，做晶圆、封装器件外观缺陷检测：划痕、崩边、引脚缺陷、封装异物，光学视觉量测。
晶圆 AOI、封装器件外观检测设备，完成非接触式外观量测检测
测试机
分选机
探针台
AOI设备
三、业务覆盖场景
覆盖半导体后道全量测流程：晶圆 CP 测试（探针台 + 测试机）→封装→成品 FT 测试（分选机 + 测试机）→外观 AOI 缺陷检测应用：AI 芯片、功率半导体、车规芯片、存储、模拟 / 混合信号芯片、消费电子芯片
四、行业格局
全球半导体测试设备主要由泰瑞达、爱德万垄断；长川科技为国产平台型代表，分选机已经大规模国产替代；数模混合、功率测试机已大规模量产导入；高速 SoC、存储测试机持续攻坚迭代。